技術(shù)文章
Technical articles光伏組件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試項(xiàng)目
一、組件外觀檢測(cè):
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005,IEC61646:2008,IEC61730:2004,UL1703:2008
檢測(cè)項(xiàng)目:太陽(yáng)能電池表面應(yīng)完整、清潔、無(wú)機(jī)械損傷,電池與基座應(yīng)粘貼牢固,邊緣要密封。
組件監(jiān)測(cè)臺(tái)(照度>1000Lux)
照度計(jì)(量程>1000Lux)
數(shù)碼相機(jī)
游標(biāo)卡尺
千分尺
卷尺
二、絕緣耐壓檢測(cè):
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005,IEC61646:2008,IEC61730:2004,UL1703:2008
測(cè)試項(xiàng)目:耐電壓測(cè)試(漏電測(cè)試儀),絕緣電阻測(cè)試,濕漏電流測(cè)試
三、穩(wěn)態(tài)模擬器及I-V測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005,IEC61646:2008,IEC61730:2004,UL1703:2008,IEC60904.3/9
試驗(yàn)項(xiàng)目 | 輻照度Irr | 溫度Temp | 劑量Time |
光老練試驗(yàn)Light soaking | 600~1000 | 50℃ | 43KWH/m2 |
熱斑耐久試驗(yàn) | 700(800)~1000 | 50℃ | 5or 1h |
溫度系數(shù)的測(cè)量 | 1000W/m2 | 55~25↓ | Continuous |
STC/NOCT性能 | 800~1000 | 25℃ |
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低輻照度下的性能 | 200W/m2 | 25℃ |
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zui大功率測(cè)量 | 1000W/m2 | 25℃ |
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四、組件戶(hù)外測(cè)試:
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005,IEC61646:2008,IEC61730:2004,UL1703:2008
測(cè)試項(xiàng)目:溫度系數(shù)的測(cè)量,電池標(biāo)稱(chēng)工作溫度的測(cè)量(NOCT),熱斑耐久試驗(yàn)(主要應(yīng)用于前期試驗(yàn)),低輻照度下性能(200W/m2)
IEC61215:2005規(guī)定不均勻度不超過(guò)±2%的光照條件下找出zui熱電池片,均勻性對(duì)穩(wěn)態(tài)模擬器是zui困難的指標(biāo),幾乎需要AAA及模擬器來(lái)實(shí)現(xiàn),對(duì)組件廠是不實(shí)現(xiàn)的,因此的方法是戶(hù)外完成前期試驗(yàn)。(IEC61646:2008對(duì)薄膜組件的定義為“During this process,the irradiance shall not change by more than±2%,薄膜的試驗(yàn)條件同晶體硅不太一樣。)
溫度系數(shù)的測(cè)量:
新標(biāo)準(zhǔn)要求BBB及或以上的光源
若是側(cè)打光方式的脈沖模擬器不太適合展開(kāi)溫度系數(shù)的測(cè)量,因?yàn)?/span>IEC61215:2005&Ed.3規(guī)定的測(cè)試點(diǎn),組件經(jīng)高低溫試驗(yàn)箱中取出,受自然降溫速率影響,組件上下溫差很大。比較實(shí)現(xiàn)的做法是戶(hù)外完成,將測(cè)試樣品和標(biāo)準(zhǔn)器件遮擋陽(yáng)光和避風(fēng),直至其溫度均勻,與周?chē)h(huán)境溫度相差在2℃以?xún)?nèi),或允許測(cè)試樣品達(dá)到一個(gè)穩(wěn)定平衡溫度,或冷卻測(cè)試樣品到低于需要測(cè)試溫度的一個(gè)值,然后讓組件自然升溫。
五、組件紫外預(yù)處理檢測(cè):
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005&Ed.3,IEC61646:2008,IEC61345:1998
檢測(cè)項(xiàng)目:
試件 | 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | 波長(zhǎng)/波段 | 試驗(yàn)判斷依據(jù) | 對(duì)應(yīng)測(cè)試儀器 |
組件 | IEC61215 IEC61646 | 280~385nm 280~400nm | 外觀檢查 zui大功率測(cè)定 絕緣電阻測(cè)試 | 外觀檢查臺(tái) 模擬器/I-V測(cè)試 絕緣耐壓測(cè)試儀 |
封裝膜 | IEC61215 IEC61646 | 280~385nm 280~400nm | 交聯(lián)度測(cè)試 黃變指數(shù) 剝離強(qiáng)度試驗(yàn) 透光率測(cè)試 | 交聯(lián)度測(cè)試系統(tǒng) 分光光度計(jì) 材料試驗(yàn)機(jī) 霧度議 |
密封膠 | ASTM C1184 | 340nm/nm | 拉力強(qiáng)度試驗(yàn) | 材料試驗(yàn)機(jī) |
六、熱循環(huán)-濕熱-濕冷凍測(cè)試:
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005&Ed.3,IEC61646:2008,VDE0126-5:2008
試驗(yàn)?zāi)康模?/span>
測(cè)試項(xiàng)目:
組件類(lèi)型 | Voc | Isc | TC200熱循環(huán) | 濕凍試驗(yàn) |
1.4×1.1m薄膜 | 100V | 1.66A | 試驗(yàn)全程通電測(cè)試 | 試驗(yàn)全程通電測(cè)試 |
2.6×2.2m薄膜 | 290V | 2.66A | 試驗(yàn)全程通電測(cè)試 | 試驗(yàn)全程通電測(cè)試 |
濕熱試驗(yàn):85℃、85%RH條件下1000小時(shí)
濕凍試驗(yàn):-40℃~85℃
85±5%R,H.@85℃
七、引出端強(qiáng)度測(cè)試:
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-21:2006,IEC61215:2005&Ed.3,IEC61646:2008,UL1703:2008,VDE0126-5:2008
測(cè)試目的:用于確定引出端及其組件體的附著是否能承受正常安裝和操作過(guò)程中所受的力。
試驗(yàn)項(xiàng)目:
項(xiàng)目 | 試驗(yàn)荷重 | 拉力試驗(yàn) | 彎曲試驗(yàn) |
組件接線盒 | 20N、40N、89N | 40N(IEC60068) 89N(UL1703) | 20N(IEC60068) |
彎曲試驗(yàn):引出端承受相對(duì)于初始位置至少300的彎曲,試驗(yàn)樣品本體在2~3秒鐘時(shí)間內(nèi),傾斜大約900,然后以同樣的時(shí)間使其恢復(fù)到初始位置。自動(dòng)完成10次循環(huán)。
八、濕漏電流測(cè)試:
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005&Ed.3,IEC61646:2008,UL1703:2008,VDE0126-5:2008
試驗(yàn)?zāi)康模汗夥M件濕漏電流試驗(yàn)用于驗(yàn)證組件經(jīng)雨、霧、露水或溶雪等氣候造成的濕氣進(jìn)入組件內(nèi)部對(duì)電路引起腐蝕、漏電或安全事故的影響。
耐壓(漏電流)及絕緣電阻測(cè)試條件
IEC61215 | 絕緣試驗(yàn) | 500V或1000V加兩倍組件zui大系統(tǒng)電壓 |
濕漏電流試驗(yàn) | 500V或組件系統(tǒng)電壓的較大值 | |
IEC61646 | 絕緣試驗(yàn) | 500V或1000V加兩倍組件zui大系統(tǒng)電壓 |
濕漏電流試驗(yàn) | 500V或組件系統(tǒng)電壓的較大值 | |
IEC61730 | 絕緣試驗(yàn) | 應(yīng)用等級(jí)A:2000V加4倍系統(tǒng)zui高電壓 應(yīng)用等級(jí)B:1000V加2倍系統(tǒng)zui高電壓 |
濕漏電流試驗(yàn) | 等同現(xiàn)行的IEC61215/61646 | |
UL1703 | 漏電流測(cè)試 | zui大的額定系統(tǒng)電壓 |
耐壓測(cè)試 | 兩倍于系統(tǒng)電壓加上1000V的直流電壓 | |
潮濕絕緣電阻測(cè)試 | 500V直流電壓 | |
VDE0126 | 工頻耐壓試驗(yàn) | 2000V+4倍的額定電壓(交流電壓) |
濕漏電流試驗(yàn) | 等同現(xiàn)行的IEC61215/61646 |
耐壓試驗(yàn)說(shuō)明:
IEC61215、61646、61730均未給出耐壓測(cè)試的合格/失敗判斷依據(jù),我們可以引用UL1703“Dielectric Volatage-Withstand Test”作為試驗(yàn)判斷依據(jù),即:耐壓測(cè)試階段漏電流不超過(guò)0.05mA。另外,程序升壓時(shí),不應(yīng)大于500V/s,組件屬于電容性負(fù)載,瞬間充電電流造成漏電流超標(biāo)。
九、水壓式載荷測(cè)試:
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005&Ed.3,IEC61646:2008,UL1703:2008
試驗(yàn)?zāi)康模?/span>
試驗(yàn)項(xiàng)目:
十、冰雹撞擊測(cè)試:
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):EC61215:2005&Ed.3,IEC61646:2008
試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證光伏組件抗冰雹沖擊能力。
十一、旁路二極管熱性能測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61215:2005&Ed.3,IEC61646:2008,UL1703:2008,VDE0126-5:2008
試驗(yàn)?zāi)康模涸u(píng)價(jià)旁路二極管的熱設(shè)計(jì)及防止對(duì)組件有害的熱斑效應(yīng)性能的相對(duì)長(zhǎng)期的可靠性。
十二、可接觸性測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61032-1997,IEC61730:2-2004,UL1703-2008,VDE0126-5:2008
試驗(yàn)?zāi)康模河糜跈z測(cè)對(duì)人的手指誤接觸危險(xiǎn)部件保護(hù),也可以用來(lái)檢測(cè)接線盒開(kāi)口機(jī)械強(qiáng)度。
VDE0126-5:2008試驗(yàn)條件:
1、可重復(fù)接線式接線盒盒蓋的固定-無(wú)螺栓緊固式盒蓋
將IEC61032中規(guī)定的試驗(yàn)11,在75N的作用力下,置于所有能夠引起盒蓋松動(dòng)的位置,并保持1min,試驗(yàn)中,盒蓋不應(yīng)松動(dòng)。
2、電氣安全防護(hù)
應(yīng)使用IEC60529中規(guī)定的試驗(yàn)值,在20N的測(cè)試下,對(duì)接線盒進(jìn)行檢測(cè)。試驗(yàn)前,所有不需要工具便可松開(kāi)的盒蓋與殼體上的部件全部被卸下。測(cè)試中不應(yīng)觸碰到帶電部分。
接地連續(xù)性測(cè)試
試驗(yàn)?zāi)康模鹤C明組件所有裸露導(dǎo)體表面之間有一導(dǎo)電通路,這樣光伏系統(tǒng)中裸露導(dǎo)體表面能夠充分地接地。只有組件存在裸露導(dǎo)體時(shí),如金屬框架或金屬接線盒,才要進(jìn)行本試驗(yàn)。
十三、組件破裂測(cè)試:
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):IEC61730-2:2004,AS/NZS2208:1996,12543-2:2006,12543-3:1998
試驗(yàn)?zāi)康模捍_認(rèn)假如組件破裂后劃傷或刺傷的危險(xiǎn)性,本試驗(yàn)引自ANSIZ97.1中的碰撞試驗(yàn)。
撞擊袋形狀和尺寸按IEC61730要求設(shè)計(jì)撞擊袋用*彈或鉛球(直徑2.5~3mm即7.5號(hào)子彈)填充到要求重量撞擊袋的外表面用膠帶包裹試驗(yàn)時(shí)撞擊袋用1.3cm寬的有機(jī)玻璃絲增強(qiáng)的壓斷敏膠帶*包裹測(cè)試框架以減小試驗(yàn)中的移動(dòng)和偏轉(zhuǎn)結(jié)構(gòu)框和支柱為100mm×200mm或更大的槽鋼。
撞擊袋充以45.5Kg中的*彈,從1.2m的垂直高度自由下擺時(shí)將產(chǎn)生542J的動(dòng)能。
十四、接線盒孔口蓋敲擊測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):Implemtation of standards:IEC61730-2:2004,VDE0126-5:2008
試驗(yàn)?zāi)康模河糜跈z測(cè)接線盒孔口蓋是否對(duì)組件有影響。
十五、落球沖擊測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):UL1703:2008“Impact Test”組件及接線盒撞擊試驗(yàn)
12543-2:1006,12543-3:1998“鋼化玻璃”,“夾層玻璃”
VDE0126-5:2008光伏接線盒
試驗(yàn)?zāi)康模阂砸?guī)定重量之鋼球調(diào)整在一定的高度,使之自由落下,打擊試件,觀察其受損程度,用以判定組件、玻璃及接線盒的品質(zhì)。
落球質(zhì)量Ball quality
535g(UL1703:2008)組件/接線盒
1040/2260g(12543)鋼化玻璃/夾層玻璃
1J(VDE0126-5:2008)接線盒(可靠率沖擊*)
落球高度1m以上
十六、鹽霧腐蝕測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):UL1703:2008,IEC61701:1995
檢測(cè)項(xiàng)目:
組件接線盒、背膜:參照IEC61701-1995(等效GB/T18912-2002)光伏組件鹽霧試驗(yàn),此標(biāo)準(zhǔn)引用了IEC60068-1:1988(等效GB/T2421-1999)標(biāo)準(zhǔn),主要針對(duì)電工電子產(chǎn)品(接線盒)的環(huán)境試驗(yàn);背膜則可能因鹽霧環(huán)境的高溫造成透氣透水性變差,從而引起水份的滲透造成組件內(nèi)部的變化(涂錫銅帶的腐蝕、EVA、PVB同薄膜或硅片間的起泡甚至脫離)。
十七、熱斑耐久測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):UL1703:2008
試驗(yàn)?zāi)康模?/span>
檢測(cè)項(xiàng)目:
EVA、PVB檢測(cè)
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):10147:1994、GB/T18474:2001、GB/T2790:1995、GB/T2791:1995、HG-3698:2002、GB2410:1989、GB/T1037:2008、GB/T1634.2:2004、ASTMD2732、GB/T13519-1992
檢測(cè)項(xiàng)目:
剝離強(qiáng)度、熱熔、透明塑料透光率和霧度、塑料薄膜和片材透水蒸汽性、塑料 負(fù)荷變形溫度、熱收縮
十八、密封膠測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):ASTM C1184:2000
測(cè)試項(xiàng)目:
流動(dòng)性的測(cè)定、擠出性的測(cè)定、硬度、熱老化、表干時(shí)間測(cè)定、拉伸粘結(jié)性的測(cè)定、冷拉-熱壓后粘結(jié)性、浸水后定伸粘結(jié)性、光老化后粘結(jié)性
十九、鋼化玻璃、夾層玻璃測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):SAC/TC225:2010建筑用太陽(yáng)能光伏夾層玻璃,試驗(yàn)項(xiàng)目基本等同于IEC61646:2008及IEC61215:2005
12543-2:2006、12543-3:1998“鋼化玻璃、夾層玻璃”
GB15763.2:2005“建筑用安全玻璃 第2部分:鋼化玻璃”
GB15763.3:2009“建筑用安全玻璃 第3部分:夾層玻璃”
檢測(cè)項(xiàng)目:
尺寸及其允許偏差:直尺
厚度及其允許偏差:游標(biāo)卡尺(或千分尺)
外觀質(zhì)量:目測(cè)
彎曲度:直尺+塞尺
抗沖擊性:落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
碎片狀態(tài):曲率半徑0.2mm小錘或沖頭
散彈袋沖擊性能:散彈袋沖擊試驗(yàn)機(jī)
表面應(yīng)力:應(yīng)力測(cè)試儀
耐熱沖擊性能:熱老化試驗(yàn)箱+冰箱
二十、涂錫銅帶,錫鉛焊料,料漿測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T2059:2008“銅及銅合金帶材”
檢測(cè)項(xiàng)目:抗拉強(qiáng)度、斷后伸長(zhǎng)率:
洛氏硬度試驗(yàn):
彎曲試驗(yàn):
電阻系數(shù)測(cè)量:
維氏硬度試驗(yàn):
銅及銅合金化學(xué)分析:
晶粒度:
GB/T3131:2001“錫鉛焊料”、YS/T612:2006“太陽(yáng)能電池用漿料”
二十一、接線盒測(cè)試
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):DIN VDE0126-5:2008“Technical specifications of selected materials of main part for terrestrial solar cell modules-part1:Junction box”
CGC/GF002.1:2009“地面用太陽(yáng)電池組件主要部件選材技術(shù)條件 第1部分:接線盒”